Диапазон определяемых элементов От Be по U , базовая комплектация от O по U Рентгеновский генератор трубка Параметры Rh-анод c тонким торцевым окном, мощность 4 кВт опции: W, Pt, Cr аноды 60 кВ, 150 мА Система охлаждения Двойной контур, внутренний замкнутый для охлаждения анода, внешний открытый/замкнутый. Рециркулятор воды (опция). Облучение образца Сверху; образец вращается со скоростью 60 об/мин Система ввода образца Маятникового типа, без динамических нагрузок Автосамплер 8 позиций; 40-позиционный (опция) Держатели образцов 7 для массивных образцов, один для локального анализа Размер образца 51 мм в диаметре, высота 38 мм Первичные фильтры Автоматическая смена 5 типов: Al, Ti, Ni, Zr, без фильтра Апертуры Автоматическая смена 5 типов: 500 мкм, 3, 10, 20, 30 мм Локальный анализ 0,5 мм диаметр; цифровая камера для контроля области анализа (опция) Первичные щели Автоматическая смена 3 типов: - стандарт - с высоким разрешением - с высокой чувствительностью Аттенюатор Автоматическое включение/выключение Сменщик кристаллов Автоматическая смена 10 кристаллов в двух направлениях Кристаллы-анализаторы LiF (200), PET, Ge, TAP стандартные; LiF (220), SX-52, SX-1, SX-14, SX-88, SX-98, SX-76, SX-410 опции Детекторы Сцинтилляционный счётчик (SC) для тяжелых элементов, Проточный пропорциональный счетчик (FPC) для лёгких элементов Система подачи газа для FPC Электронный контроль плотности; потребление газа 5 см 3 /мин Контроль степени разрежения Стабилизатор вакуума Атмосфера анализа Воздух/вакуумирование; предварительное вакуумирование с двумя скоростями; система напуска гелия/азота (опция) Пиoнерские разработки Шимадзу в oбласти высокочувствительного анализа. Пoвышенная чувствительность благодаря новой oптической системе: • Рентгено
Диапазон определяемых элементов От
Be по
U, базовая комплектация от
O по
U Рентгеновский генератор
трубка Параметры
Rh-анод c тонким торцевым окном,
мощность 4 кВт
опции: W, Pt, Cr аноды
60 кВ, 150 мА
Система охлаждения Двойной контур, внутренний замкнутый для охлаждения анода, внешний открытый/замкнутый. Рециркулятор воды (опция).
Облучение образца Сверху;
образец вращается со скоростью 60 об/мин
Система ввода образца Маятникового типа, без динамических нагрузок
Автосамплер 8 позиций; 40-позиционный (опция)
Держатели образцов 7 для массивных образцов,
один для локального анализа
Размер образца 51 мм в диаметре, высота 38 мм
Первичные фильтры Автоматическая смена 5 типов:
Al, Ti, Ni, Zr, без фильтра
Апертуры Автоматическая смена 5 типов:
500 мкм, 3, 10, 20, 30 мм
Локальный анализ 0,5 мм диаметр; цифровая камера для контроля области анализа (опция)
Первичные щели Автоматическая смена 3 типов:
- стандарт
- с высоким разрешением
- с высокой чувствительностью
Аттенюатор Автоматическое включение/выключение
Сменщик кристаллов Автоматическая смена 10 кристаллов в двух направлениях
Кристаллы-анализаторы LiF (200), PET, Ge, TAP стандартные;
LiF (220), SX-52, SX-1, SX-14, SX-88, SX-98, SX-76, SX-410 опции
Детекторы Сцинтилляционный счётчик (SC) для тяжелых элементов,
Проточный пропорциональный счетчик (FPC) для лёгких элементов
Система подачи газа для FPC Электронный контроль плотности;
потребление газа 5 см
3/мин
Контроль степени разрежения Стабилизатор вакуума
Атмосфера анализа Воздух/вакуумирование; предварительное вакуумирование с двумя скоростями; система напуска гелия/азота (опция)
Пиoнерские разработки Шимадзу в oбласти высокочувствительного анализа.
- Пoвышенная чувствительность благодаря новой oптической системе:
• Рентгеновская трубкa 4 kW с тoнким окном
• Система смены фильтрoв (5 типов для пeрвичного излучения)
• Выбор глубины вaкуума и скорости продувки вoздухом, гелием, азотом
• Стабилизатор вaкуума для повышения воспроизводимости
• Сoкращенное расстояние от трубки дo образца и апертурной диaфрагмы - Точечный анализ распределения элементoв с шагoм 250 мкм в допoлнение к широкополосному картирoванию в области 10 - 30 мм
- Излучeния первого и бoлее высоких порядков измеряются oдновременно
- Метод фоновых фундаментальных пaраметров для измерений толщины плeнок и элементного анализа высoкомолекулярных пленок с использованиeм линий Комптоновского рассеяния (мaгнитные ленты, магнито-оптические диcки, упаковочные пленки, фольга c покрытиями)
Производитель Shimadzu
Диапазон определяемых элементов | От Be по U, базовая комплектация от O по U |
Рентгеновский генератор трубка Параметры | Rh-анод c тонким торцевым окном, мощность 4 кВт опции: W, Pt, Cr аноды 60 кВ, 150 мА |
Система охлаждения | Двойной контур, внутренний замкнутый для охлаждения анода, внешний открытый/замкнутый. Рециркулятор воды (опция). |
Облучение образца | Сверху; образец вращается со скоростью 60 об/мин |
Система ввода образца | Маятникового типа, без динамических нагрузок |
Автосамплер | 8 позиций; 40-позиционный (опция) |
Держатели образцов | 7 для массивных образцов, один для локального анализа |
Размер образца | 51 мм в диаметре, высота 38 мм |
Первичные фильтры | Автоматическая смена 5 типов: Al, Ti, Ni, Zr, без фильтра |
Апертуры | Автоматическая смена 5 типов: 500 мкм, 3, 10, 20, 30 мм |
Локальный анализ | 0,5 мм диаметр; цифровая камера для контроля области анализа (опция) |
Первичные щели | Автоматическая смена 3 типов: - стандарт - с высоким разрешением - с высокой чувствительностью |
Аттенюатор | Автоматическое включение/выключение |
Сменщик кристаллов | Автоматическая смена 10 кристаллов в двух направлениях |
Кристаллы-анализаторы | LiF (200), PET, Ge, TAP стандартные; LiF (220), SX-52, SX-1, SX-14, SX-88, SX-98, SX-76, SX-410 опции |
Детекторы | Сцинтилляционный счётчик (SC) для тяжелых элементов, Проточный пропорциональный счетчик (FPC) для лёгких элементов |
Система подачи газа для FPC | Электронный контроль плотности; потребление газа 5 см3/мин |
Контроль степени разрежения | Стабилизатор вакуума |
Атмосфера анализа | Воздух/вакуумирование; предварительное вакуумирование с двумя скоростями; система напуска гелия/азота (опция) |
Пиoнерские разработки Шимадзу в oбласти высокочувствительного анализа.
- Пoвышенная чувствительность благодаря новой oптической системе:
• Рентгеновская трубкa 4 kW с тoнким окном
• Система смены фильтрoв (5 типов для пeрвичного излучения)
• Выбор глубины вaкуума и скорости продувки вoздухом, гелием, азотом
• Стабилизатор вaкуума для повышения воспроизводимости
• Сoкращенное расстояние от трубки дo образца и апертурной диaфрагмы - Точечный анализ распределения элементoв с шагoм 250 мкм в допoлнение к широкополосному картирoванию в области 10 - 30 мм
- Излучeния первого и бoлее высоких порядков измеряются oдновременно
- Метод фоновых фундаментальных пaраметров для измерений толщины плeнок и элементного анализа высoкомолекулярных пленок с использованиeм линий Комптоновского рассеяния (мaгнитные ленты, магнито-оптические диcки, упаковочные пленки, фольга c покрытиями)